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Sogenannte wechselwirkungsfreie Messungen sind ein aus der Quantenmechanik bekanntes Interferenzph\xe4nomen, mit dessen Hilfe die Anwesenheit eines Objekts detektiert werden kann, ohne das Objekt in irgendeiner Weise zu st\xf6ren. Der erste Teil dieser Arbeit befasst sich mit wechselwirkungsfreien Messungen mit Elektronen. Integriert in ein Mikroskop k\xf6nnte diese Technik es erm\xf6glichen, die bei Elektronenmikropskopie auftretenden Strahlensch\xe4den erheblich zu reduzieren.\n\nEs werden verschiedene Ans\xe4tze zur Realisierung von wechselwirkungsfreien Messungen mit Elektronen und die dabei auftretenden Schwierigkeiten besprochen. Hauptthema hierbei ist der ben\xf6tigte Elektronen-Strahlteiler. Wir stellen einen m\xf6glichen Ansatz vor, der auf der Kontrolle und dem Einschluss eines Elektronenstrahls durch Mikrowellenfelder beruht. Mit diesem Strahlteiler ist es gelungen, einen langsamen Elektronenstrahl mit kinetischer Energie von ungef\xe4hr 1 eV in zwei Strahlen zu spalten. Wir diskutieren in einem vereinfachten quantenmechanischen Modell, welche Eigenschaften ein solcher Strahlteiler aufweisen muss, um Elektronenwellen ohne St\xf6rung zu teilen und wechselwirkungsfreie Messungen zu erm\xf6glichen. Au\xdferdem besch\xe4ftigen wir uns mit der Anwendung von interaktionsfreien Messungen in der Bildgebung, insbesondere mit der Frage, inwiefern sie die Messung und Unterscheidung von Graustufen erlauben. Es stellt sich heraus, dass die Messung von Graustufen im typischen Interferenzaufbau einer wechselwirkungsfreien Messung zwar m\xf6glich ist, aber der dabei entstehende Schaden am Messobjekt nur in speziellen F\xe4llen geringer ist als in einer herk\xf6mmlichen Transmissionsmessung. Wir untersuchen auch den Einfluss von Phasenverschiebungen. Bei Messobjekten, die Graustufen aufweisen und Phasenverschiebungen verursachen, k\xf6nnen wechselwirkungsfreie Messungen f\xfcr Objekte mit hoher Transparenz weniger Schaden verursachen als konventionelle Transmissionsmessungen und Messungen mit einem Mach-Zehnder-Interferometer.\n\nEin weiteres Thema dieser Arbeit ist die optische Feldverst\xe4rkung an Nanospitzen. Wir untersuchen in numerischen Simulationen \xfcber einen gro\xdfen Parameterbereich, wie die H\xf6he der Feldverst\xe4rkung von der Geometrie und dem Material der Spitze abh\xe4ngt. Dabei stellen wir fest, dass neben dem Kr\xfcmmungsradius der Spitze auch der \xd6ffnungswinkel einen \xfcberraschend gro\xdfen Einfluss auf die Feldverst\xe4rkung hat, welchen wir durch ein vereinfachtes Modell qualitativ erkl\xe4ren k\xf6nnen. Anwendung findet die optische Feldverst\xe4rkung in der Photoemission von Elektronen aus scharfen Metallspitzen. Hierzu zeigen wir Experimente in verschiedenen Regimes der Photoemission: einerseits Multiphotonenemission mit einem Erbium-Faserlaser und andererseits Photoemission im Starkfeldregime mit einem Titan-Saphir-Oszillator. Letztere Messungen erlauben es, mit Hilfe einer neuen, auf Elektronen-R\xfcckstreuung beruhenden Methode die optische Feldverst\xe4rkung in unmittelbarer N\xe4he der Spitzenoberfl\xe4che zu ermitteln. Die so erhaltenen Ergebnisse stimmen gut mit den Simulationen \xfcberein.